Kết quả tìm kiếm

Tải biểu ghi 
Tìm thấy 1 biểu ghi Tiếp tục tìm kiếm :
1
Sắp xếp theo :     Hiển thị:  
STTChọnThông tin ấn phẩm
1 Design and test technology for dependable systems-on-chip / Raimund Ubar, Jaan Raik, and Heinrich Theodor Vierhaus, editors . - Hershey, Pa. : IGI Global, ©2011 . - 1 online resource (1 volume)
  • Chỉ số phân loại DDC: 621.381
  • File đính kèm http://192.168.9.110/edata/EBOOKS/COLLECTION/IGI-Global-Engineering-and-Maritime/203.%20Design%20and%20Test%20Technology%20for%20Dependable%20Systems-on-Chip.pdf
    		•
    1
    Tìm thấy 1 biểu ghi Tiếp tục tìm kiếm :