Xem chi tiết ấn phẩm

Dữ liệu biên mục

Dạng tài liệu:
Thông tin mô tả:	Design and test technology for dependable systems-on-chip / Raimund Ubar, Jaan Raik, and Heinrich Theodor Vierhaus, editors Hershey, Pa. : IGI Global, ©2011 1 online resource (1 volume)

Dữ liệu xếp giá

Tổng số bản: 0

Số bản rỗi: 0 (kể cả các bản được giữ chỗ)

Số bản được giữ chỗ: 0

>>> Không có thông tin xếp giá <<<

Dữ liệu điện tử

Logo	LINK
	http://192.168.9.110/edata/EBOOKS/COLLECTION/IGI-Global-Engineering-and-Maritime/203.%20Design%20and%20Test%20Technology%20for%20Dependable%20Systems-on-Chip.pdf

Mục từ truy cập

Tác giả: IGI Global, Ubar, Raimund, Raik, Jaan, Vierhaus, Heinrich Theodor

DDC: 621.381

Từ khoá: Built-in self repair for logic structures, Combined test-data compression and test planning, Diagnostic modeling of digital systems, Fault simulation and fault injection technology, Fault-tolerant and fail-safe design based on reconfiguration, Flexible fault-tolerant schedules for embedded systems, Memory testing and self-repair, Optimizing fault tolerance for multi-processor system-on-chip, Software-based self-test of embedded microprocessors, Transient faults detection and compensation

Tiêu đề đề mục: Systems on a chip, Networks on a chip

Số liệu bổ sung tổng hợp ấn phẩm định kỳ Chi tiết

Bình phẩm, bình luận

Ấn phẩm liên quan

Mục từ về hình thức vật lý khác của ấn phẩm:
YBP Library Services YANK

Print version: 1609602129 9781609602123 (DLC)