Kết quả tìm kiếm

Tải biểu ghi 
Tìm thấy 1 biểu ghi Tiếp tục tìm kiếm :
1
Sắp xếp theo :     Hiển thị:  
STTChọnThông tin ấn phẩm
1 Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electronic microscopy / J.P Eberhart . - New York : Wiley, 1991 . - 545 p ; 25 cm
  • Thông tin xếp giá: SDH/LT 01762
  • Chỉ số phân loại DDC: 620.1
    		•
    1
    Tìm thấy 1 biểu ghi Tiếp tục tìm kiếm :