Dạng tài liệu: | Sách, chuyên khảo, tuyển tập | Thông tin mô tả: | Eberhart J.P Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electronic microscopy / J.P Eberhart New York : Wiley, 1991 545 p ; 25 cm
| Call Number: | 620.1 FUN(13) 1993 |
|